产品介绍 www.yxcly.com http://www.yxcly.com/edx2800yggpy.html 信噪比增强器 自动切换准直器和滤光片，分别针对不同样品 独特的光路增强系统，方便用户更好地观察样品 测量 RoHS，电镀镀层，全元素分析，一机多用

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快速/坚固/可靠，超一流的分析工具，表现更出色！X射线荧光(XRF)分析是全世界认可的有效快速鉴定矿山中关键矿物质成分的方法。其速度、灵活性和操作简单的特点使之成为当今专业采矿人员和矿物质学家的首选工具。X-MET7000系列手持式分析仪提供坚固的现场分析，适用于恶

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日本日立SFT-110型X射线荧光镀层厚度测量仪日立（SEA1000AⅡ、EA1200VX、EA1300VX、EA6000VX，膜厚仪SFT-110、FT-110、SFT9300、SFT9355、SFT9455、SFT9500X、SFT9550X）SFT-110系列产品,搭载了高性能X射线管，实

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TX-9600型光电直读光谱仪是分析黑色金属及有色金属成分的快速定量分析仪器

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X-MET7000系列手持式合金分析光谱仪牛津仪器新款X-MET7000和X-MET7500手持式能量色散X射线荧光（XRF）分析仪，操作简单，分析结果非常精确。它无与伦比的检测能力可以满足高的应用要求。材料可靠性鉴定、质量控制保证、痕量元素分析，都只需几秒种就可以完成。

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分 析 范 围: 1PPM-99.99

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用于高分子荧光材料、发光粉及稀土掺杂粉末复合物的高温荧光测试，升温速率40℃/min.控温范围：室温--300℃；设定精度：0.1℃，控温精度0.2℃。可以用于日立全线荧光光谱仪，HJY全线荧光光谱仪。

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EDX-LE是一款专用于RoHS/ELV/法规限制的有害元素筛选分析的X射线荧光分析装置。

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测量元素：从硫到铀等 75 种元素 元素含量分析范围：1ppm-99.99 RoHS 指令规定的有害元素（限 Cd/Pb/Cr/Hg/Br）检测限高达 1ppm 测量时间：60-300s 能量分辨率：165±5eV 管压：5-50 kV 管流：50-1000μA

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960MC/960CRT型荧光分光光度计是新一代智能化仪器，广泛地应用于科研、化工、医药、生化、环保以及临床检测、食品检验、教学实验等领域。

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