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光谱系统分类
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近接场光学显微分光系统

日本分光株式会社生产的可以分光测定的扫描型接近场光学显微镜NFS系列，世界一流。这台装置能10-100nm左右的空间分解力进行显微分光测量。能在微小的领域观测光谱强度变化以及波峰变换可更好的对物质特性描述。

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经济型旋光仪

P3000经济型旋光仪是P8000的简化版，使用同样的专利快速测定技术。测量样品仅需1秒钟，无论旋转角度是多少，节省大量的时间。

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阿贝折光仪

阿贝折光仪是Ernst Abbe 1869年发明的，用来测定折射率。利用光线在棱镜和样品的边界处发生全反射的原理。

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